semiconductor sample

semiconductor sample
semiconductor sample Halbleiterprobe f

English-German dictionary of Electrical Engineering and Electronics. 2013.

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  • Sample and hold — In electronics, a sample and hold circuit is used to interface real world signals, by changing analogue signals to a subsequent system such as an analog to digital converter. The purpose of this circuit is to hold the analogue value steady for a… …   Wikipedia

  • Sample-and-Hold-Schaltung — Eine Sample and Hold Schaltung (kurz: S H), im Deutschen auch als Abtast Halte Glied bzw. Abtast Halte Schaltung bzw. Momentanwertabtastung bezeichnet, ist eine elektronische Vorrichtung die es erlaubt, analoge Spannungswerte kurzzeitig auf einem …   Deutsch Wikipedia

  • Sample- and Hold-Schaltung — Eine Sample and Hold Schaltung (kurz: S H), im Deutschen auch als Abtast Halte Glied bzw. Abtast Halte Schaltung bzw. Momentanwertabtastung bezeichnet, ist eine elektronische Vorrichtung die es erlaubt, analoge Spannungswerte kurzzeitig auf einem …   Deutsch Wikipedia

  • Sample and Hold — Eine Sample and Hold Schaltung (kurz: S H), im Deutschen auch als Abtast Halte Glied bzw. Abtast Halte Schaltung bzw. Momentanwertabtastung bezeichnet, ist eine elektronische Vorrichtung die es erlaubt, analoge Spannungswerte kurzzeitig auf einem …   Deutsch Wikipedia

  • Sample and hold — Eine Sample and Hold Schaltung (kurz: S H), im Deutschen auch als Abtast Halte Glied bzw. Abtast Halte Schaltung bzw. Momentanwertabtastung bezeichnet, ist eine elektronische Vorrichtung die es erlaubt, analoge Spannungswerte kurzzeitig auf einem …   Deutsch Wikipedia

  • Sample and hold circuit — Eine Sample and Hold Schaltung (kurz: S H), im Deutschen auch als Abtast Halte Glied bzw. Abtast Halte Schaltung bzw. Momentanwertabtastung bezeichnet, ist eine elektronische Vorrichtung die es erlaubt, analoge Spannungswerte kurzzeitig auf einem …   Deutsch Wikipedia

  • Electron mobility — This article is about the mobility for electrons and holes in metals and semiconductors. For the general concept, see Electrical mobility. In solid state physics, the electron mobility characterizes how quickly an electron can move through a… …   Wikipedia

  • Electron beam induced current — (EBIC) is a semiconductor analysis technique performed in a scanning electron microscope (SEM) or scanning transmission electron microscope (STEM). It is used to identify buried junctions or defects in semiconductors, or to examine minority… …   Wikipedia

  • Scanning capacitance microscopy — (SCM) is a variety of scanning probe microscopy in which a narrow probe electrode is held just above the surface of a sample and scanned across the sample. SCM characterizes the surface of the sample using information obtained from the change in… …   Wikipedia

  • Optical beam induced current — (OBIC) is a semiconductor analysis technique performed using laser signal injection. The technique uses a scanning laser beam to create electron–hole pairs in a semiconductor sample. This induces a current which may be analyzed to determine the… …   Wikipedia

  • Optical beam-induced currents — Optical Beam Induced Current (OBIC) is a semiconductor analysis technique that employs a scanning laser beam to induce a current flow within a semiconductor sample which may be collected and analyzed to generate images that represent the sample s …   Wikipedia

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